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Banc de caractérisation hautes performances d'interfaces de communication Ce banc de référence est dédié à la caractérisation automatique d'interfaces de communication embarquées dans les processeurs multimedia (interface Camera, affichage LCD couleur, sortie TV, carte Flash, USB, FlrDA, DDR SRDAM...) Il offre en particulier, une solution complète pour la caractéristation de contôleur mémoire DDR-SDRAM en mode WRITE et READ; Le choix d'instruments hautes performances et un système de test innovant offrent une incertitude absolue <30ps tant en génération de signaux de simulation SDRAM, qu'en mesure des signaux générés par le contrôleur mémoire Fiche Technique |
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Banc de caractérisation DAC Banc dédié à la caractérisation automatique des convertisseurs Numérique/Analogique utilisés dans le domaine des communications sans fil, le multimédia et les produits connexes (jusqu'à 16 bits, 667 MHz). Caractérisations statiques et dynamiques du composant: INL, DNL, THD, THD+N, SNR, SFDR, Panoramic Spectrum, Rise Time, Fall Time, Settling Time... Génération automatique de rapports. Fiche Technique et Exemple Rapport Automatique |
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Banc de caractérisation ADC Banc dédié à la caractérisation automatique des convertisseurs Analogique/Numérique (jusqu'à 24 bits, 1.8 GHz) Caractérisation de la linéarité (INL, DNL) et mesures dynamiques(THD, THD+N, SNR, SFDR, ENOB..) Génération automatique de rapport. Ce banc est équipé d'un système de filtrage syntonisé développé spécifiquement pour permettre les mesures de convertisseurs hautes performances. Fiche Technique et Exemple Rapport Automatique |
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Banc de caractérisation ADC Caractérisation automatique des convertisseurs Analogique/Numérique (jusqu'à 14 bits, 450MHz). Le banc permet également de mesurer le taux de réjection du mode commun (CMRR) ainsi que l'immunité aux perturbations d'alimentation (PSRR). Sa première utilisation à l'IM2NP, sera la caractérisation d'une chaîne A/D traitant des signaux provenenant de capteurs N&MEMS accélération et champ magnétique. Les objectifs de la chaîne de conversion sont : 12-14 bits à 200kSa/s, entrée différentielle DC à quelques KHz. |
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Banc de caractérisation composants Audio Ce système est dédié à la caractérisation automatique de composants Audio analogiques, numériques ou combinés. Le banc utilise un analyseur Audio R&S UPV avec une chaîne externe de synchronisation et effectue les mesures THD, S/N, Sinad, FFT, RMS... pour différentes interfaces numériques (I2S) et analogiques. Génération automatique de rapport |
Les testeurs Bourbaky chez ST Microelectronics
Les testeurs de caractérisation ADC et DAC livrés chez ST Microelectronics par Bourbaky, illustrent l'article consacré au métier de la validation dans la parution "ST Grenoble Le Journal" d'avril 2007. voir l'article
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